터치 스크린은 투명한 ITO (indium tin oxide)로 인출 된 송신 (Tx) 및 수신 (Rx) 전극을 가지며, 특성 커패시턴스를 갖는 각각의 Tx-Rx 접합과 교차 트레이스의 매트릭스를 형성한다. 사람의 손가락은 기본적으로 RX와 TX 전극 사이의 상호 정전 용량을 변경하는 접지입니다. 이 네트워크는 전하 변화 (즉, 정전 용량 변화)에 매우 민감합니다.

일반적인 충전기는 플라이 백 회로 토폴로지를 사용합니다. 이들이 생성하는 간섭 파형은 복잡하고 회로 세부 사항 및 출력 전압 제어 전략에 따라 충전기마다 상당히 다릅니다. 간섭 진폭은 제조업체가 스위칭 변압기의 차폐에 할당 한 설계 노력과 단가에 따라 크게 달라집니다.

이 간섭을 필터링하기 어려운 일반적인 EMI 파라미터는 다음과 같습니다.

• 파형은 복잡하며 펄스 폭 변조 구형파와 LC 링잉으로 구성됩니다.
• 공칭 부하에서 40–150 kHz의 주파수, 매우 가벼운 부하에서 펄스 주파수 또는 스킵 사이클 작동 주파수가 <2 kHz로 떨어짐
• 입력 피크 전압의 최대 절반까지의 전압 레벨 = Vrms / sqrt (2)

이들 간섭 전압은 터치 스크린 장치의 내부 및 외부의 소스로부터 용량 적으로 결합된다. 이러한 간섭 전압은 터치 스크린 내에서 전하 이동을 야기하며, 이는 스크린상의 손가락 터치로 인해 측정 된 전하 이동과 혼동 될 수있다.

이 형태의 EMI에는 TX / RX 전극 커패시턴스 측정을 방해 할 수있는 많은 커플 링 경로가 있습니다. 내부 (장치의 차폐 불량), 외부 기생 (손가락 장치는 닫힌 접지 루프를 발생시키는 등). 잘못 설계된 충전기 또는 제대로 차폐되지 않은 장치 (또는 둘 다)는 터치 스크린 문제를 일으킬 수 있습니다.

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