아직 언급되지 않은 점은 입력의 스위치 커패시턴스입니다. 많은 ADC는 측정하는 동안 커패시터를 입력에 연결하고 나중에 언젠가 연결을 끊습니다. 이 캡의 초기 상태는 마지막으로 측정 된 전압, VSS 또는 불일치 한 것일 수 있습니다. 정확한 측정을 위해서는 커패시턴스가 연결될 때 입력이 번지거나 커패시터가 분리되기 전에 바운스 및 복구되어야합니다. 실제로 이것은 입력의 커패시턴스가 특정 값보다 커야하거나 입력 커패시턴스와 소스 임피던스로 형성된 RC 시간이 특정 값보다 작아야 함을 의미합니다.

예를 들어, 스위칭 된 입력 커패시턴스가 10pF이고 획득 시간이 10uS라고 가정하십시오. 입력 임피던스가 100K이고 ADC의 커패시턴스 이외의 입력 커패시턴스가없고 시작 캡 전압과 측정 할 전압의 차이가 R 인 경우 RC 시정 수는 1uS (10pF * 100K)입니다. 따라서 획득 시간은 10 RC 시간 상수이고 오류는 R / exp (10) (약 R / 22,000)입니다. R이 풀 스케일 전압 일 경우 오류는 16 비트 측정에는 문제가되지만 12 비트 측정에는 문제가되지 않습니다.

10pF의 스위칭 된 커패시턴스 외에 보드에 10pF의 커패시턴스가 있다고 가정합니다. 이 경우 초기 오류는 절반으로 줄어들지 만 RC 시간 상수는 두 배가됩니다. 결과적으로 오류는 R / 2 / exp (5) (약 R / 300)입니다. 8 비트 측정에 적합합니다.

커패시턴스를 조금 더 높이면 상황이 더욱 악화됩니다. 커패시턴스를 90pF로 푸시하면 오류는 R / 10 / exp (1) (약 R / 27)입니다. 반면에 캡이 그보다 훨씬 커지면 오류가 다시 발생합니다. 1000pF의 커패시턴스에서 오류는 약 R / 110입니다. 10,000pF (0.01uF)에서 약 R / 1000입니다. 0.1uF에서는 약 R / 10,000이고 1uF에서는 약 R / 100,000입니다.

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